國產平面干涉儀150MM

G150M型平面干涉儀:專為計量級測試的需求設計，適用于計量機構檢定和校準光學平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器，1-6.7倍圖像放大功能，高精度的成像系統和圖像采集系統，精密平面標準鏡等一系列高精技術，通過優化光學系統和機械系統結構，實現高精密平面光學元件的測量。選配靜態干涉條紋分析軟件，實現數字化測量。G150S為G150M:的簡化版本，適合光學車間的現場檢驗。主要用途：平面類光學元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面。 詳細介紹>>