15J 型測量顯微鏡
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一、用途: 15J型測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下: 1.直角座標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽 寬度,狹縫寬度,通孔圓直徑等等。 2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規,鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。 3.用作觀察顯微鏡,以比較檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等. |
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二、技術規格:
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三、測量工作臺讀數裝置主要規格: x軸移動測量范圍: 50毫米 y軸移動測量范圍: 13毫米 測微器分度值: 0.01毫米 測量臺轉動范圍: 不限 測量臺刻度盤分度范圍: 0° - 360° 測量臺刻度盤之分度值: 1° 測量臺刻度盤游標讀數示值: 6' 照明方式:反射光(自然光) 測量精度:儀器值誤差(5+L/15)微米 儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器系統誤差。 注:測量地點溫度變化(20 ± 3)C;L—被測件長度(毫米) 儀器之主要尺寸: 測量臺與物鏡間之最大距離:80毫米 測量工作臺直徑: 120毫米 儀器外形尺寸: 高325*長262*寬220毫米 儀器重量級: 約10.6公斤 顯微鏡的目鏡管同棱鏡成為一體繞垂軸旋轉,顯微鏡可由調焦手輪進行上下調焦 四、選購件: 1.目鏡:20X 2.物鏡:4X,5X,20X,40X |
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