G150M型平面干涉儀:專為計(jì)量級(jí)測試的需求設(shè)計(jì),適用于計(jì)量機(jī)構(gòu)檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器,1-6.7倍圖像放大功能,高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng),精密平面標(biāo)準(zhǔn)鏡等一系列高精技術(shù),通過優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)高精密平面光學(xué)元件的測量。選配靜態(tài)干涉條紋分析軟件,實(shí)現(xiàn)數(shù)字化測量。
產(chǎn)品型號(hào) | G150M | G150S |
有效通光口徑 | 152.4mm(6英寸) | |
測量方式 | 菲索干涉原理 | |
光源 | 氦氖激光(632.8nm) | 半導(dǎo)體激光器(635nm) |
連續(xù)變焦倍數(shù) | 1-6.7倍 | 固定倍率 |
光路切換 | 對(duì)準(zhǔn)(十字叉絲)與測試(干涉場)模式電控切換 | |
顯示方式 | 計(jì)算機(jī)或獨(dú)立監(jiān)視器實(shí)時(shí)顯示 | 監(jiān)視器實(shí)時(shí)顯示 |
平面透過標(biāo)準(zhǔn)鏡 | PV:優(yōu)于λ/20,可定制更高精度標(biāo)準(zhǔn)鏡 | |
平面反射標(biāo)準(zhǔn)鏡 | 標(biāo)配 | 選配 |
衰減過濾片 | 標(biāo)配 | 選配 |
儀器尺寸(長X寬X高) | 500X500X1070mm | |
儀器重量 | 80KG | |
電源 | AC100-240V 50/60Hz | |
(附注:更大口徑平面干涉儀可依據(jù)客戶需求定制) |
儀器特點(diǎn)
◇ 精度高:標(biāo)準(zhǔn)鏡精度高,且材料經(jīng)過精密退火處理,穩(wěn)定可靠;
◇ 調(diào)整方便:可通過切換開關(guān)選擇對(duì)準(zhǔn)與干涉場兩種顯示模式,方便調(diào)整;
◇ 條紋真實(shí):優(yōu)良的光學(xué)設(shè)計(jì),精密的系統(tǒng)裝保證得到清晰、準(zhǔn)確、真實(shí)的干涉條紋;
◇ 性能優(yōu)良:儀器具備良好的隔振性能,適合光學(xué)加工現(xiàn)場使用;
◇ 配件豐富:標(biāo)配密封罩,可將測試腔與外界氣流隔離,降低測試過程中氣流擾動(dòng),提高判斷的準(zhǔn)確性。配合衰減過濾片,可以測量鍍高反膜元件。 |
注:聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)說是在“傲立機(jī)床網(wǎng)”上看到的,謝謝!